Zuverlassige Bauelemente fur elektronische Systeme
Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Pruffeldpraxis, Qualitatsuberwachung
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Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlassigkeit sind erganzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhalt der Leser prazise, praxisnah und umfassend samtliche Zuverlassigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik uber die Pruffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitatsuberwachung.
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