Cover of Kroschel Kristian, Gerhard Rigoll, Bjorn W. Schuller: Statistische Informationstechnik

Kroschel Kristian, Gerhard Rigoll, Bjorn W. Schuller Statistische Informationstechnik

Signal - und Mustererkennung, Parameter- und Signalschatzung

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Springer Berlin Heidelberg

2011

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978-3-642-15954-1

3-642-15954-0

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Die Autoren behandeln die Signalerkennung im Rauschen, die Mustererkennung sowie die Parameter- und Signalschatzung. Grundlegende Fragen veranschaulichen sie anhand von Anwendungsbeispielen. Berucksichtigt werden moderne Verfahren wie Wavelet-Transformation und neben klassischen Detektionsverfahren auch neuere, beispielsweise Klassifikatoren, die auf neuronale Netze und Fuzzy-Logik aufbauen. Die 5. Auflage wurde im Bereich des maschinellen Lernens substanziell erweitert. Der Band ist geeignet fur Studierende wie fur Ingenieure in der Praxis.

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